We used reflection high?energy electron diffraction (RHEED), X-ray Diffraction(XRD), Atomic Force Microscopy(AFM),X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) etc to study the micro-structure and composition of thin films.

• 为了对BaTiO3/SrTiO3超晶格薄膜的结构进行表征,使用了反射式高能电子衍射仪RHEED、X射线衍射(XRD)、原子力显微镜(AFM)、X射线光电子能谱(XPS)等分析技术对薄膜的结构和成分进行了测试。