Using IEEE P1500 and similar CTW (core test wrapper) designs, test control mechanisms and corresponding TAM (test access mechanism) constructed SOC test architecture becomes more and more popular.

• 在SOC中应用IEEE P1500测试设计规范以及其它类似的测试设计技术，确定核测试包封设计、测试控制机制以及测试访问机制，实现测试结构框架的方法已经被普遍采用。