This paper mainly dealt with the sintering conditions of ultrafine particles GdSe coating layers (CdSe/Ni) by XRD, SEM, TEM and high energy electron diffraction (RHEED).
英
美
释义
通过X射线衍射(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)、透射电子显微镜(TEM)和高能电子衍射(RHEED)等技术,研究了由蒸发冷凝法制备的n型半导体材料GdSe超细微粒涂层(CdSe/Ni)的烧结工艺。
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