The degradation induced by interface state is one main reason for failure occurs in deep-sub-micron MOS devices.
英
美
释义
界面态引起的器件特性的退化是深亚微米器件失效的一个重要因素。
把海词放在桌面上,查词最方便
触屏版
|
电脑版
©2003 - 2025 海词词典(Dict.cn)
立即下载