The correlation between photo-negative resistance characteristics and optical bistability characteristics of silicon photoelectronic negative resistance devices (SPNRDs) is analyzed.
英
美
释义
文章对电阻为负载时,硅光电负阻器件(SPNRD)的光电负阻特性和光学双稳态特性间的对应关系进行了系统的分析。
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