Spectroscopic ellipsometry has been widely used as a non-destructive and a non-touched optical tool for characterizing the optical properties and layered structure of bulk and thin film materials.

• 现代椭圆偏振光谱测量作为一种非接触、非破坏性测量的方法广泛应用于工业生产和科学研究，它是研究光频电磁波在两媒质间界面或薄膜中传播时发生的现象及其特性的一种光学方法。