Nal(Tl) scintillation detector and Si(Au) surface barrier semiconductor detector are used to measure X-ray fluctuations in the HT-6B Tokamak device.
英
美
释义
用NaI(Tl)晶体闪烁探测器和金硅面垒型半导体探测器,在HT-6B托卡马克装置上对X射线起伏进行了相关测量。
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