M. T. Lee and C. H. Liu. Transmission Line Pulse Method for Measuring Electrostatic Voltages. Patent Number: 6570388, Assignee: United Microelectronics Corp. Date Granted: 2003/5/27.

• 刘传玺。一种半导体产品可靠度的测量方法。证书号:199664。专利权人:联华电子股份有限公司。获权日：2004/4/1。