Aimed at branch coverage, bit-function coverage and statement-observability coverage measures, a generation method of high level testcase is represented using CFG/DFG model.

• 本文基于控制流图/数据流图两层次模型,以分支覆盖、位功能覆盖以及语句可观覆盖为目标,给出一高层次测试用例生成算法,即通过两个子过程的交替进行生成电路的测试用例块。 并在此基础上,采用一定填充策略填充未知位,生成满足覆盖需求的、一定长度的测试序列,实现测试生成。