A Study of Defects in GaAs Substrates and GaAs-Al_xGa_(1-x)As DH Epitaxial Wafers by X-Ray Topography
英
美
释义
用X射线形貌技术研究GaAs衬底及GaAs-Al_xGa_(1-x)As DH外延片中的缺陷
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